Normal view
MARC view
Исследование характеристик структур МДП на основе МЛЭ N-HgCdTe в конфигурации nBνN методом спектроскопии адмиттанса А. В. Войцеховский, С. М. Дзядух, Д. И. Горн [и др.]
Material type:
ArticleContent type: Текст Media type: электронный Other title: Investigation of characteristics of mis structures based on MBE n-HgCdTe NBνN barrier structures by admittance spectroscopy [Parallel title]Subject(s): фотоприемные устройства | барьерные униполярные детекторы | инфракрасные детекторы | nBn-структура | молекулярно-лучевая эпитаксия | адмиттанс | МДП-структурыGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online
In:
XXVI Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 25-27 мая 2022 г., Москва, Россия : тезисы докладов С. 252-254Abstract: Работа посвящена исследованию характеристик структур МДП на основе МЛЭ N-HgCdTe в конфигурации nBνN методом спектроскопии адмиттанса
No physical items for this record
Библиогр.: 6 назв.
Работа посвящена исследованию характеристик структур МДП на основе МЛЭ N-HgCdTe в конфигурации nBνN методом спектроскопии адмиттанса
There are no comments on this title.