Normal view
MARC view
Исследование низкочастотных флуктуаций тока в прямой ветви ВАХ структур с барьером Шоттки на GaAs в области низких температур Н. Г. Филонов, Н. К. Максимова
Material type: ArticleSubject(s): физика полупроводников | полупроводники | полупроводниковые приборы | диодные структуры | Шоттки барьер | арсенид галлия | низкочастотные флуктуации тока | вольт-амперные характеристики | прямая ветвь вольт-амперных характеристик | низкие температуры | экспериментальные исследования | полупроводниковые материалы | труды ученых ТГУ In: Восьмая российская конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V". GaAs-2002, 1-4 октября 2002 г. : материалы конференции С. 346-348No physical items for this record
Библиогр.: 4 назв.
There are no comments on this title.