Normal view
MARC view
Исследование рельефа и поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок GaAs методом атомно-силовой микроскопии В. А. Новиков, И. В. Ивонин, В. Г. Божков, Н. А. Торхов
Material type: ArticleSubject(s): физика полупроводников | физика диэлектриков | труды ученых ТГУ | эпитаксиальные пленки | атомно-силовая микроскопия In: Физика твердого тела : сборник материалов XI Российской научной студенческой конференции, 13-15 мая 2008 г., Томск, Россия С. 199-202No physical items for this record
Библиогр.: 5 назв.
There are no comments on this title.