Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
- Книгохранилище (1)
-
Item types
-
Topics
- управление качеством (2)
- анализ измерительных систем (1)
- достоверность измерений (1)
- единство измерений (1)
- измерение качества (1)
- измерения in situ (1)
- измерения in situ многопараметровые (1)
- измерения in situ параллельные (1)
- измерительная техника (1)
- измерительные сигналы (1)
- калибровка (метрология) (1)
- качество контроля (1)
- квалиметрия (1)
- контроль качества (1)
- контроль средств измерений (1)
- кремний пористый, образование (1)
- массивы данных многомерные (1)
- массоперенос локальный (1)
- математическое описание экспрессное (1)
- метрологическая деятельность (1)
- метрологическая экспертиза (1)
- метрология теоретическая (1)
- микроструктуры (1)
- нанометровые слои (1)
- нанополупроводниковые структуры (1)
- нанопроволоки серебра (1)
- нанослои, формирование (1)
- наноструктуры (1)
- наноструктуры, мониторинг свойств (1)
- наноструктуры, мониторинг технологии (1)
- неопределенность результатов измерений (1)
- обработка данных измерений (1)
- обработка данных измерений высокоскоростная (1)
- окисление кремния (1)
- оценка качества (1)
- планирование эксперимента многофакторное (1)
- погрешности измерений (1)
- примеси мелкие, концентрация (1)
- разработка технологических процессов научная, методология (1)
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (1)
- сертификация продуктов (1)
- спектрофотометрия (1)
- точность измерений (1)
- туннельный эффект (1)
- управление инновациями (1)
- управление технологическими факторами (1)
- эллипсометры спектральные (1)
- эталоны измерений (1)
- Show more
- Show less