Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
- Книгохранилище (2)
-
Item types
-
Topics
- измерения in situ (2)
- математическое описание экспрессное (2)
- наноструктуры, мониторинг свойств (2)
- наноструктуры, мониторинг технологии (2)
- планирование эксперимента многофакторное (2)
- разработка технологических процессов научная, методология (2)
- управление инновациями (2)
- управление качеством (2)
- управление технологическими факторами (2)
- измерения in situ многопараметровые (1)
- измерения in situ параллельные (1)
- кремний пористый, образование (1)
- массивы данных многомерные (1)
- массоперенос локальный (1)
- математическое моделирование (1)
- материаловедение (1)
- микроструктуры (1)
- микротехнологии (1)
- мониторинг свойств наноматериалов (1)
- мониторинг технологических факторов количественный (1)
- нанометровые слои (1)
- нанополупроводниковые структуры (1)
- нанопроволоки серебра (1)
- нанослои, формирование (1)
- наноструктуры (1)
- наноструктуры, методы контроля (1)
- наноструктуры, средства контроля (1)
- нанотехнологии (1)
- обработка данных измерений высокоскоростная (1)
- окисление кремния (1)
- примеси мелкие, концентрация (1)
- рельеф поверхностей наноструктур (1)
- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (1)
- сканирующая туннельная микроскопия многопараметровая (1)
- спектрофотометрия (1)
- туннельный эффект (1)
- эллипсометры спектральные (1)
- Show more
- Show less