Normal view
MARC view
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures an analysis of composition and strain state Andreas Rosenauer
Material type:
TextSeries: Springer tracts in modern physics / ed. by H. Fukuyama [a. o.]Publication details: Berlin [a. o.] Springer 2003Description: xii, 238 p. illISBN: 3540004149ISSN: 0081-3869Subject(s): полупроводниковые наноструктуры | электронная голография | электронная микроскопия | квантовые ямы | квантовые точки | деформированное состояние | электронная дифракция
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 2-057399 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000575214 |
Includes bibliographical references
Index: p. 235-238
There are no comments on this title.