Normal view
MARC view
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures (Record no. 520061)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01508nam a2200373 c 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000243657 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20221021110313.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 120827s2003 gw a f b 001 0 eng d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 3540004149 |
| 022 ## - Индекс ISSN | |
| ISSN | 0081-3869 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000243657 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | eng |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 537.533.35:539.2 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.382:539.2 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 537.311.322:620.186 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Rosenauer, Andreas |
| 9 (RLIN) | 542641 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures |
| Продолж. заглавия | an analysis of composition and strain state |
| Ответственность | Andreas Rosenauer |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Berlin [a. o.] |
| Издательство | Springer |
| Дата издания | 2003 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | xii, 238 p. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ill. |
| 490 10 - Серия | |
| Заглавие серии | Springer tracts in modern physics / ed. by H. Fukuyama [a. o.] |
| № тома | Vol. 182 |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Includes bibliographical references |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Index: p. 235-238 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые наноструктуры |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная голография |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная микроскопия. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | квантовые ямы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | квантовые точки. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | деформированное состояние. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная дифракция. |
| 830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
| Унифицированное заглавие | Springer tracts in modern physics / ed. by H. Fukuyama [a. o.] |
| 9 (RLIN) | 542642 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 537 |
| Авторский знак | R79 |
| Код страны | ru |
| 942 ## - Дополнительные данные (Коха) | |
| Код системы классификации для розстановки фонда | |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 520061 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 2625.00 | 2-057399 | 13820000575214 | Выдается в читальный зал |