Normal view
MARC view
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН [и др. ; сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев]
Material type:
SetVolumes: Show volumesPublication details: Великий
Новгород [б. и.] 2007Description: 172 с. илISBN: 9785898963408; 5898963408Other title: Modern methods of diffraction data analysis [Parallel title]Subject(s): излучение синхротронное | электронная микроскопия | гетероструктуры многослойные | наноструктуры | монокристаллы, дефекты структуры | поликристаллы | топографические изображения, дефекты монокристаллов | тонкие пленки | резонансные методы | многослойные оптические структуры | синхротронное излучение | методы исследований кристаллов
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-953937к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000606393 |
В надзаг.: Москов. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгород. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого
Библиогр. в конце статей
There are no comments on this title.