Normal view
MARC view
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) (Record no. 517920)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02692nam a2200433 a4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000237640 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20220620103709.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 071121s2007 ru a f b 001 0 rus d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 9785898963408 |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 5898963408 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000237640 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 548.0:539.1:539.2:535(042.3)(063) |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 537.311.3:539.216.2:548.55(042.3)(063) |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) |
| Продолж. заглавия | сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года |
| Ответственность | Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН [и др. ; сост.: В. А. Ткаль, А. О. Окунев] |
| 246 11 - Заглавие тома/части | |
| Заглавие тома/части | Modern methods of diffraction data analysis |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Великий <br/>Новгород |
| Издательство | [б. и.] |
| Дата издания | 2007 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 172 с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 500 ## - Примечания | |
| Примечание | В надзаг.: Москов. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Новгород. гос. ун-т им. Ярослава Мудрого |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр. в конце статей |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | излучение синхротронное. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная микроскопия. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | гетероструктуры многослойные. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | наноструктуры. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | монокристаллы, дефекты структуры. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | поликристаллы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | топографические изображения, дефекты монокристаллов. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | тонкие пленки |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | резонансные методы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | многослойные оптические структуры. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | синхротронное излучение |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | методы исследований кристаллов. |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Ткаль, Валерий Алексеевич |
| Код отношения | com |
| 9 (RLIN) | 281443 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Окунев, Алексей Олегович |
| Код отношения | com |
| 9 (RLIN) | 116058 |
| 710 2# - Другие организации | |
| Организация/юрисдикция | Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого |
| 9 (RLIN) | 76011 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 517920 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 190.00 | 1-953937к | 13820000606393 | Выдается в читальный зал |