Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
- Капустин, Владимир Иванович (2)
- Сигов, Александр Сергеевич [x]
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
-
Item types
-
Topics
- аналитические методы анализа наноматериалов, виды (1)
- аналитические методы исследования (1)
- взаимодействие ионов с твердым телом (1)
- взаимодействие фотонов с твердым телом (1)
- взаимодействие электронов с твердым телом (1)
- дефекты кристаллической структуры (наноматериалы) (1)
- диэлектрические материалы (1)
- единицы измерения несистемные физических величин материалов (1)
- ионная спектроскопия (1)
- ионно-плазменные технологии наноструктур (1)
- конструкционные материалы электроники, типы (1)
- материаловедение физическое (1)
- материалы электроники (1)
- материалы электроники, испытания (1)
- материалы электроники, технологии получения (1)
- материалы электронной техники (1)
- материалы, диаграммы состояния (1)
- материалы, классификация (1)
- материалы, свойства (1)
- материалы, структура (1)
- материалы, фазовые состояния (1)
- материалы, физико-химический анализ (1)
- металлические материалы (1)
- микроэлектроника, технологии (1)
- наноматериалы, контроль структуры (1)
- наноматериалы, контроль элементного состава (1)
- наноматериалы, промышленное производство (1)
- наноматериалы, структура кристаллическая (1)
- наноматериалы, структура электронная (1)
- наноматериалы, технологии (1)
- наноматериалы, химические связи (1)
- нанопорошки металлов (1)
- нанопорошки нитридов металлов (1)
- нанопорошки оксидов (1)
- нанопорошки чистых металлов (1)
- нанопорошковые материалы, технологии (1)
- наноструктуры электроники (1)
- наноструктуры эпитаксиальные, дефекты (1)
- наноструктуры, контроль размеров (1)
- наноструктуры, промышленное производство (1)
- наночастицы, контроль размеров (1)
- нитриды металлов (1)
- оксиды металлов (1)
- плазменные технологии получения материалов (1)
- планарные технологии, типы (1)
- полупроводниковые материалы, методы контроля дефектов (1)
- порошки металлов (1)
- рентгеноструктурный анализ (1)
- сегнетоэлектрические материалы (1)
- спектроскопические методы анализа (наноматериалы) (1)
- Show more
- Show less