Normal view
MARC view
Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур учебное пособие : [для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника" и направлениям подготовки магистров 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.04.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника"] В. И. Капустин, А. С. Сигов ; МИРЭА - Рос. технолог. ун-т
Material type:
TextSeries: Высшее образование | Электронно-библиотечная система "Znanium.com"Publication details: Москва ИНФРА-М 2019Description: 243 с. ил., таблISBN: 9785160138060Subject(s): наноматериалы, промышленное производство | наноструктуры, промышленное производство | нанопорошковые материалы, технологии | наноматериалы, технологии | наноструктуры эпитаксиальные, дефекты | эпитаксиальные технологии наноструктур | ионно-плазменные технологии наноструктур | аналитические методы анализа наноматериалов, виды | взаимодействие электронов с твердым телом | взаимодействие ионов с твердым телом | взаимодействие фотонов с твердым телом | наноматериалы, структура кристаллическая | наноматериалы, контроль структуры | наночастицы, контроль размеров | наноструктуры, контроль размеров | наноматериалы, контроль элементного состава | наноматериалы, химические связи | наноматериалы, структура электронная | дефекты кристаллической структуры (наноматериалы) | нанопорошки оксидов | нанопорошки нитридов металлов | нанопорошки чистых металлов | планарные технологии, типы | наноструктуры электроники | спектроскопические методы анализа (наноматериалы) | рентгеноструктурный анализ | физика поверхности твердого тела | электронная микроскопия
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 621.3 К207 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820001004772 |
Библиогр.: с. 238-240
There are no comments on this title.