Normal view
MARC view
Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур монография А. А. Бычков
Material type:
TextPublication details: Москва Русайнс 2021Description: 98 с. илContent type: Текст Media type: непосредственный ISBN: 9785436569420Subject(s): полупроводниковые пленки, релаксация | энергия деформации | гетероэпитаксиальные пленки | дислокации несоответствия | наноструктуры дефектные | нанопленки SiGe | трещины туннельные | дислокации проникающие | дислокации равновесия | компьютерные модели нанопленки SiGe | наноразмерные эпитаксиальные гетероструктуры | плотность упругой энергии | Странского-Крастанова островки
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Читальный зал 5 | 621.3 Б959 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820001028298 |
Библиогр.: с. 92-98
There are no comments on this title.