Normal view
MARC view
Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур (Record no. 723830)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01772nam a2200397 c 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | koha000723830 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 211228s2021 ru a b 000 0 rus d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| Индекс ISBN | 9785436569420 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | koha000723830 |
| 039 ## - История создания и изменения записи | |
| Создание записи | 19 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.315.592.9-022.532:539.219.2 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 538.975-022.532:548.25:548.548.4 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 538.975-022.532:548.52 |
| 100 1# - Автор | |
| Ф.И.О. | Бычков, Андрей Александрович |
| 9 (RLIN) | 767668 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Устойчивость и разрушение дефектных механических наноструктур |
| Продолж. заглавия | монография |
| Ответственность | А. А. Бычков |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Русайнс |
| Дата издания | 2021 |
| 9 (RLIN) | 704151 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 98 с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 336 ## - Тип содержимого | |
| Тип содержимого | Текст |
| 337 ## - Средство доступа | |
| Средство доступа | непосредственный |
| 504 ## - Библиография, указатели | |
| Библиография, указатели | Библиогр.: с. 92-98 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые пленки, релаксация |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | энергия деформации |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | гетероэпитаксиальные пленки |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокации несоответствия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | наноструктуры дефектные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | нанопленки SiGe |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | трещины туннельные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокации проникающие |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокации равновесия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | компьютерные модели нанопленки SiGe |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | наноразмерные эпитаксиальные гетероструктуры |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | плотность упругой энергии |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Странского-Крастанова островки |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Код страны | ru |
| Полочный индекс | 621.3 |
| Авторский знак | Б959 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Расстановочный шифр | Штрих-код | Дата последнего просмотра | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Читальный зал 5 | 28/12/2021 | 690.00 | 621.3 Б959 | 13820001028298 | 24/08/2023 | Выдается по месту хранения |