Normal view
MARC view
Complete test patterns set for single stuck-at faults at the CLB poles of a combinational circuit A. Yu. Matrosova, E. S. Loukovnikova
Material type: ArticleSubject(s): аппаратные средства | программные средства | труды ученых ТГУ In: Доклады IV Сибирской научной школы-семинара с международным участием "Проблемы компьютерной безопасности и криптография" - SYBECRYPT'05 Томск, ТГУ, 6-9 сентября 2005 г. С. 161-166No physical items for this record
Библиогр.: 10 назв.
There are no comments on this title.