Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Complete test patterns set for single stuck-at faults at the CLB poles of a combinational circuit (Record no. 255197)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01440naa a2200253 i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000378471
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210404113409.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 101212s2005 ru f 100 0 eng d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000378471
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. eng
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 519.7
100 1# - Автор
Автор Matrosova, Anzhela Yu.
9 (RLIN) 106598
245 10 - Заглавие
Заглавие Complete test patterns set for single stuck-at faults at the CLB poles of a combinational circuit
Ответственность A. Yu. Matrosova, E. S. Loukovnikova
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 10 назв.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова аппаратные средства
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова программные средства
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова труды ученых ТГУ
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Loukovnikova, E. S.
9 (RLIN) 342939
773 0# - Источник информации
Название источника Доклады IV Сибирской научной школы-семинара с международным участием "Проблемы компьютерной безопасности и криптография" - SYBECRYPT'05 (Томск, ТГУ, 6-9 сентября 2005 г.)
Место и дата издания Томск, 2005
Прочая информация С. 161-166
Обл. серии из связ. един. Вестник Томского государственного университета. Приложение ; № 14, Август 2005
-- Серия "Математика. Кибернетика. Информатика"
ISSN 1561-7793
Контрольный № источника to000211217
852 ## - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 255197

No items available.