Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Адмиттанс МДП-структур на основе HgCdTe с двухслойным диэлектриком CdTe/Al2O3 (Record no. 435032)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03793nab a2200409 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000626213
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20240424131147.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr |
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 190526|2017 ru s c rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000626213
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
245 10 - Заглавие
Заглавие Адмиттанс МДП-структур на основе HgCdTe с двухслойным диэлектриком CdTe/Al2O3
Ответственность С. М. Дзядух, А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов и др.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 15 назв.
506 ## - Ограничения на доступ к материалу
Ограничения доступа Доступ в сети ТГУ
520 3# - Аннотация
Аннотация Экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе n ( p ) - Hg1-x Cd x Te (при x от 0.22 до 0.40) с диэлектриками SiO2/Si3N4, Al2O3 и CdTe/Al2O3 при температуре 77 К. Выращивание в процессе эпитаксии промежуточного слоя CdTe приводит при малом диапазоне изменения напряжения к практически полному исчезновению гистерезиса электрофизических характеристик МДП-структур на основе варизонного n -HgCdTe. При большом диапазоне изменения напряжения гистерезис вольт-фарадных характеристик для МДП-структур на основе n -HgCdTe с диэлектриком CdTe/Al2O3 появляется, но механизм гистерезиса отличается от такового для однослойного диэлектрика Al2O3. Для МДП-структур на основе p -HgCdTe введение дополнительного слоя CdTe не приводит к значительному уменьшению гистерезисных явлений, что может быть связано с деградацией свойств границы раздела при выходе ртути из пленки в результате низкотемпературного отжига, изменяющего тип проводимости полупроводника.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова МДП-структуры
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электрофизические исследования
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова адмиттанс
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова молекулярно-лучевая эпитаксия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова двухслойные диэлектрики
655 #4 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма статьи в журналах
9 (RLIN) 879358
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Дзядух, Станислав Михайлович
9 (RLIN) 80402
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Несмелов, Сергей Николаевич
9 (RLIN) 65140
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Сидоров, Георгий Юрьевич
9 (RLIN) 135906
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Варавин, Василий Семенович
9 (RLIN) 90984
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Васильев, Владимир Васильевич
Титул (звание) физик
9 (RLIN) 95955
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Дворецкий, Сергей Алексеевич
9 (RLIN) 90983
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Михайлов, Николай Николаевич
Титул (звание) физик
9 (RLIN) 90964
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Якушев, Максим Витальевич
9 (RLIN) 91994
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Войцеховский, Александр Васильевич
9 (RLIN) 64789
773 0# - Источник информации
Название источника Известия высших учебных заведений. Физика
Место и дата издания 2017
Прочая информация Т. 60, № 11. С. 3-12
ISSN 0021-3411
Контрольный № источника 0026-80960
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
856 7# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000626213">http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000626213</a>
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 435032

No items available.