Измерение времени жизни носителей заряда в SI-GaAs:Cr и EL2-GaAs методом pump-probe-терагерцовой спектроскопии / И. И. Колесникова, Д. А. Кобцев, Р. А. Редькин [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 4. С. 16-21. URL: http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000720735
