| 000 | 02105nam a2200517 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000246747 | ||
| 005 | 20221021110138.0 | ||
| 008 | 120827s2003 gw a f b 001 0 eng d | ||
| 020 | _a3540005455 | ||
| 022 | _a1439-2674 | ||
| 035 | _ato000246747 | ||
| 040 |
_aRU-ToGU _beng _cRU-ToGU |
||
| 080 | _a538.9 | ||
| 245 | 1 | 0 |
_aSurface science _ban introduction _cK. Oura, V. G. Lifshits, A. A. Saranin [a. o.] |
| 260 |
_aBerlin [a. o.] _bSpringer _c2003 |
||
| 300 |
_axii, 440 p. _bill. |
||
| 490 | 1 | 0 | _aAdvanced texts in physics |
| 504 | _aBibliogr.: p. 417-431. - Index: p. 433-440 | ||
| 653 | _aповерхностные явления | ||
| 653 | _aдвумерная кристаллография | ||
| 653 | _aдифракционные методы | ||
| 653 | _aкристаллические плоскости | ||
| 653 | _aструктура поверхности | ||
| 653 | _aвакуумная техника | ||
| 653 | _aфотоэлектронная дифракция | ||
| 653 | _aфотоэлектронная спектроскопия | ||
| 653 | _aспектроскопия рассеяния | ||
| 653 | _aрентгеновская дифракция | ||
| 653 | _aповерхностный анализ | ||
| 653 | _aэлектронная микроскопия. | ||
| 653 | _aповерхностная диффузия | ||
| 653 | _aрост тонких пленок | ||
| 653 | _aнаноструктуры | ||
| 653 | _aнанокристаллы | ||
| 653 | _aсамоорганизация наноструктур | ||
| 653 | _aфуллерены | ||
| 653 | _aуглеродные нанотрубки | ||
| 653 | _aфизика поверхности | ||
| 700 | 1 |
_aOura, K. _9556403 |
|
| 700 | 1 |
_aLifshits, V. G. _9556404 |
|
| 700 | 1 |
_aSaranin, Alexander A. _9237730 |
|
| 830 |
_aAdvanced texts in physics _9300082 |
||
| 852 | 4 |
_aRU-ToGU _h538.9 _iS94 _nru |
|
| 942 | _2udc | ||
| 999 | _c556755 | ||