| 000 | 05831nam a2201153 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000224609 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20210909191028.0 | ||
| 008 | 070202s2006 ru a f b 001 0 rus | ||
| 017 |
_a06-57958 _bRuMoRKP |
||
| 020 | _a5020343552 | ||
| 035 | _a(RU-RKP)ru06-067450RKP | ||
| 040 |
_aRuMoRKP _brus _cRU-RKP _dRU-ToGU |
||
| 041 | 0 | _arus | |
| 080 | _a538.9 | ||
| 084 |
_a22.37 _2rubbkm |
||
| 245 | 1 | 0 |
_aВведение в физику поверхности _cК. Оура, В. Г. Лифшиц, А. А. Саранин [и др.; Рос. акад. наук, Дальневост. отд-ние, Ин-т автоматики и процессов упр.] |
| 246 | 1 | 1 | _aSurface science |
| 260 |
_aМ. _bНаука _c2006 |
||
| 300 |
_a490 с. _bил. _c25 см. |
||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 464-481 | ||
| 555 | _aПредм. указ.: с. 482-490 | ||
| 650 | 7 |
_aПоверхностные явления _xФизика _2RuMoRKP _9523650 |
|
| 653 | _aкристаллография двумерная | ||
| 653 | _aкристаллические решетки двумерные | ||
| 653 | _aБраке кристаллические решетки двумерные | ||
| 653 | _aМиллера индексы | ||
| 653 | _aкристаллические плоскости | ||
| 653 | _aБриллюэна зона | ||
| 653 | _aструктура поверхности | ||
| 653 | _aвакуум сверхвысокий | ||
| 653 | _aвакуумная техника | ||
| 653 | _aчистые поверхности | ||
| 653 | _aнапыление в вакууме | ||
| 653 | _aдифракция электронов медленных | ||
| 653 | _aдифракция электронов быстрых | ||
| 653 | _aрентгеновская дифракция | ||
| 653 | _aповерхностный анализ | ||
| 653 | _aэлектронная дифракция просвечивающая | ||
| 653 | _aатомное рассеяние | ||
| 653 | _aфотоэлектронная дифракция | ||
| 653 | _aэлектронная оже-дифракция | ||
| 653 | _aоже-спектроскопия электронная | ||
| 653 | _aфотоэлектронная спектроскопия | ||
| 653 | _aспектроскопия характеристических потерь энергии электронами | ||
| 653 | _aспектроскопия рассеяния | ||
| 653 | _aионы медленные | ||
| 653 | _aсоударение частиц | ||
| 653 | _aканалирование | ||
| 653 | _aспектроскопия обратного рассеяния | ||
| 653 | _aспектроскопия рассеяния ионов | ||
| 653 | _aмасс-спектроскопия ионнов вторичных | ||
| 653 | _aэмиссионная микроскопия полевая | ||
| 653 | _aионная микроскопия полевая | ||
| 653 | _aэлектронная микроскопия просвечивающая | ||
| 653 | _aэлектронная микроскопия отражательная | ||
| 653 | _aэлектронная микроскопия сканирующая | ||
| 653 | _aсканирующая туннельная микроскопия | ||
| 653 | _aатомно-силовая микроскопия | ||
| 653 | _aмикроскопия электронов медленных | ||
| 653 | _aповерхности релаксированные | ||
| 653 | _aповерхности реконструированные | ||
| 653 | _aметаллы | ||
| 653 | _aграфит | ||
| 653 | _aполупроводники элементарные | ||
| 653 | _aполупроводники сложные | ||
| 653 | _aповерхности с адсорбатами | ||
| 653 | _aповерхностные фазы | ||
| 653 | _aсубмонослойные системы | ||
| 653 | _aадсорбат-подложка | ||
| 653 | _aфазовые диаграммы | ||
| 653 | _aдефекты поверхности структурные | ||
| 653 | _aповерхностные процессы элементарные | ||
| 653 | _aадсорбция | ||
| 653 | _aдесорбция термическая | ||
| 653 | _aповерхностная диффузия | ||
| 653 | _aуравнения поверхностных процессов | ||
| 653 | _aанизотропия | ||
| 653 | _aкластеры | ||
| 653 | _aповерхностная электромиграция | ||
| 653 | _aрост тонких пленок | ||
| 653 | _aгомоэпитаксия | ||
| 653 | _aгетероэпитаксия | ||
| 653 | _aэпитаксия молекулярно-лучевая | ||
| 653 | _aэпитаксия твердофазная | ||
| 653 | _aэпитаксия лучевая химическая | ||
| 653 | _aнаноструктуры | ||
| 653 | _aнанокристаллы | ||
| 653 | _aсамоорганизация наноструктур | ||
| 653 | _aфуллерены | ||
| 653 | _aуглеродные нанотрубки | ||
| 653 | _aфизика поверхности | ||
| 700 | 1 |
_aОура, Кендзиро _9523651 |
|
| 700 | 1 |
_aЛифшиц, Виктор Григорьевич _9222025 |
|
| 700 | 1 |
_aСаранин, Александр Александрович _9523652 |
|
| 852 | 4 |
_aRU-ToGU _h538.9 _iВ24 _nru |
|
| 920 |
_a5-02-034355-2 _bв пер. _9400 экз. |
||
| 999 | _c496565 | ||