000 01966nam a2200397 c 4500
001 vtls000781848
005 20230319221249.0
008 201015s1936 ru ad frb 000 0 rus d
035 _ato000781848
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
_ePSBO
080 _a 53(066):374.8(571.16-25)
110 2 _aСибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск)
_976047
245 1 0 _aТруды Сибирского физико-технического института при Томском государственном университете им. В. В. Куйбышева
_nТ. 4, вып. 1
_c[отв. ред. Д. Иваненко]
260 _aТомск
_bКрасное знамя
_c1936
300 _a66 с.
_bил.
336 _aТекст
337 _aнепосредственный
504 _aБиблиогр. в конце ст.
653 _aкристаллизация столбчатая
653 _aРаман-спектры
653 _aфотоэлектрические счетчики
653 _aэлектрические заряды объемные
653 _aэлектрическая прочность
653 _aэлектрический пробой безэлектродный
653 _aдиэлектрики твердые
653 _aпластическое сжатие
653 _aхолодная обработка металлов
653 _aотжиг
653 _aметалл упрочненный
653 _aэлектропроводность серной кислоты
653 _aсвет, теория нейтринная
655 4 _aсборники
_9879349
700 1 _aИваненко, Дмитрий Дмитриевич
_d1904-1994
_4edt
_993697
852 4 _aRU-ToGU
_nru
999 _c471902