| 000 | 02408nam a2200373 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000500872 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20230606174551.0 | ||
| 008 | 150311s1988 ru a f b 000 0 rus d | ||
| 035 | _ato000500872 | ||
| 040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU |
||
| 080 | _a621.315.592:620.179.163 | ||
| 100 | 1 |
_aДетинко, Михаил Владимирович _9424468 |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aФизические основы неразрушающего СВЧ-резонаторного метода локального контроля электрофизических параметров полупроводников _cМ. В. Детинко, Ю. В. Медведев, А. С. Петров ; Сиб. физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова при Том. гос. ун-те |
| 260 |
_aТомск _bИздательство Томского университета _c1988 |
||
| 300 |
_a29 с. _bил. |
||
| 490 | 1 |
_aПрепринт _vn 3 |
|
| 504 | _aБиблиогр.: с. 27-29 | ||
| 653 | _aполупроводниковые материалы | ||
| 653 | _aэлектрофизические параметры полупроводников, измерение | ||
| 653 | _aрезонаторы измерительные, теория | ||
| 653 | _aрезонаторы измерительные, конструкции | ||
| 653 | _aдиэлектрическая проницаемость полупроводников на СВЧ | ||
| 653 | _aпоглощение электромагнитного поля полупроводниками | ||
| 653 | _aпреобразователи измерительные радиоволновые | ||
| 653 | _aизмерительные приборы неразрушающего контроля | ||
| 700 | 1 |
_aМедведев, Юрий Васильевич _d1943- _992438 |
|
| 700 | 1 |
_aПетров, Алексей Сергеевич _d1938-1996 _969066 |
|
| 710 | 2 |
_aСибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск) _976047 |
|
| 710 | 2 |
_aТомский государственный университет. _953646 |
|
| 830 | 0 |
_aПрепринт _9424469 |
|
| 852 | 4 |
_aRU-ToGU _h621.3 _iД382 _nru |
|
| 999 | _c368012 | ||