000 02074nam a22004452c 4500
001 vtls000551745
003 RU-ToGU
005 20211217095956.0
008 161125s1950 ru fa f b 001 0 rus d
035 _a(RuMoELAR)1946-68-080601
035 _a(ELAR)005788733
040 _aRuMoRGB
_brus
_cELAR
_ercr
_dRU-ToGU
041 1 _arus
_heng
044 _aru
080 _a537.531:535.4
100 1 _aДжеймс, Реджинальд Вильям
_9214551
245 1 0 _aОптические принципы диффракции рентгеновских лучей
_cР. Джеймс ; пер. с англ. Г. А. Гольдера, М. П. Шаскольской ; под ред. В. И. Ивероновой
260 _aМосква
_bИздательство иностранной литературы
_c1950
300 _a572 с., [7] л. ил.
_bчерт., ил.
_c27 см
490 1 _aКристаллическое состояние
_vТ. 2
504 _aБиблиогр. в конце глав
653 _aрентгеновские лучи
653 _aдиффракция
653 _aрентгеноструктурный анализ
653 _aгеометрическая теория диффракции
653 _aкристаллические твердые тела.
653 _aаморфные твердые тела.
653 _aатомное рассеяние
653 _aтепловое рассеяние
653 _aжидкости.
653 _aгазы
653 _aметоды исследования.
653 _aтеоретические основы.
653 _aэкспериментальные исследования.
653 _aрасчеты интенсивности рассеяния
700 1 _aИверонова, В. И.
_4edt
_9214552
830 0 _aКристаллическое состояние
_9214553
852 4 _aRU-ToGU
_nru
999 _c130153