Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (8)
- Статьи из сериальных изданий (1)
-
Authors
- Сергеев, Алексей Георгиевич (3)
- Akiyama, Eiji (1)
- Chumlyakov, Yuri I. (1)
- Kireeva, Irina V. (1)
- Koyama, Motomichi (1)
- Ogawa, Kazuyuki (1)
- Sawaguchi, Takahiro (1)
- Tsuzaki, Kaneaki (1)
- Баженов, Сергей Леонидович (1)
- Боровский, Игорь Борисович (1)
- Брандон, Дэвид (1)
- Гаранин, Виктор Константинович (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Каплан, У. (1)
- Кудрявцева, Галина Петровна (1)
- Морис, Ф. (1)
- Нан Яо (1)
- Новиков, Ю. А. (1)
- Филибер, Ж. (1)
- Чжун Лин Ван (1)
- Яминский И. В. (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (8)
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Абонемент (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (8)
- 6 месяцев (3)
- 1 месяц (2)
-
Topics
- электронные микроскопы растровые (6)
- электронная микроскопия (5)
- наноизмерения (4)
- сканирующая зондовая микроскопия (4)
- Нанотехнологии (3)
- нанометрология (3)
- неопределенность наноизмерений (3)
- оптическая микроскопия (3)
- сертификация наноиндустрии (3)
- стандартизация наноиндустрии (3)
- электронные микроскопы растровые измерительные (3)
- Метрологическое обеспечение (2)
- атомно-силовая микроскопия (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нестабильность наноизмерений (2)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- полупроводники (2)
- спектроскопия наноматериалов (2)
- точность наноизмерений (2)
- хроматография наноматериалов (2)
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электронная микроскопия растровая (2)
- Брэгга уравнение (1)
- Исследование (1)
- Кикучи диаграммы (1)
- Лауэ уравнение (1)
- Материалы (1)
- Метрология (1)
- Микроструктура (1)
- Наноструктуры (1)
- Оже-электроны (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- Электронная микроскопия (1)
- аморфные фазы (1)
- анизотропия (1)
- атомно-зондовая томография (1)
- биологические образцы (1)
- взаимодействие электронов с веществом (1)
- геологические образцы (1)
- гетерогенность (1)
- гомогенность (1)
- дифрактограммы (1)
- дифракционный анализ (1)
- дифракция электронов (1)
- идентификация минералов (1)
- Show more
- Show less