Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
-
Locations
- Книгохранилище (2)
- Читальный зал 5 (1)
-
Item types
-
Topics
- гетероструктуры многослойные (2)
- излучение синхротронное (2)
- монокристаллы, дефекты структуры (2)
- наноструктуры (2)
- тонкие пленки (2)
- топографические изображения, дефекты монокристаллов (2)
- электронная микроскопия (2)
- Земля, планета (1)
- Маркшейдерско-геодезические работы (1)
- Монокристаллы (1)
- географические координаты (1)
- геодезические измерения (1)
- геодезические приборы (1)
- геодезические работы в строительстве (1)
- геодезические разбивочные работы (1)
- геодезические сети (1)
- геодезия (1)
- деформации инженерных сооружений, наблюдения (1)
- дислокационные структуры (1)
- картография (1)
- кривизна Земли (1)
- маркшейдерские съемки (1)
- маркшейдерское дело (1)
- методы исследований кристаллов (1)
- многослойные оптические структуры (1)
- монокристаллы, выращивание (1)
- монокристаллы, микродефекты (1)
- наноразмерные дефекты (1)
- нивелирование геометрическое (1)
- нивелирование площадей (1)
- нивелирование поверхности (1)
- нивелирование поперечных профилей (1)
- нивелирование техническое (1)
- оптические изображения, дефекты монокристаллов (1)
- ориентирование (1)
- погрешности измерений (1)
- поликристаллы (1)
- полупроводниковые структуры, дефекты (1)
- резонансные методы (1)
- синхротронное излучение (1)
- теодолитная съемка (геодезия) (1)
- топографические изображения (1)
- топографические карты (геодезия) (1)
- топографические съемки (геодезия) (1)
- топографическое картографирование (1)
- топография рентгеновская секционная (1)
- топографо-геодезические работы (1)
- уравнительные вычисления (1)
- эпитаксиальные слои (1)
- Show more
- Show less