Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 4 results.

    1.
    Измерения параметров полупроводниковых материалов Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой

    by Ковтонюк, Николай Филиппович | Концевой, Юлий Абрамович.

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Москва Металлургия 1970Availability: No items available :
    2.
    Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [учебник для вузов по специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы"] Л. П. Павлов

    by Павлов, Лев Павлович.

    Edition: Изд. 2-е, перераб. и доп.Material type: Text Text; Literary form: Not fiction Publication details: Москва Высшая школа 1987Availability: No items available :
    3.
    Практикум по физике полупроводников А. А. Сироткин ; [ред. В. И. Гаман]

    by Сироткин, Александр Александрович, 1921-2003 | Гаман, Василий Иванович, 1929-2021 [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Publication details: Томск Издательство Томского университета 1981Availability: No items available :
    4.
    Особенности измерения удельного сопротивления поликристаллического кремния М. А. Гончарова, А. Г. Левашкин, А. И. Башкиров [и др.]

    by Левашкин, Андрей Геньевич | Башкиров, Александр Иванович | Лапатин, Леонид Григорьевич | Воронин, Дмитрий Алексеевич | Гончарова, Мария Александровна.

    Source: Инноватика - 2020 : сборник материалов XVI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 23-25 апреля 2020 г., г. Томск, РоссияMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Other title: Features of measuring resistivity in polycrystalline silicon.Online access: Click here to access online Availability: No items available :