Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
-
Item types
-
Topics
- спектральная зависимость оптической рефракции (2)
- Ми теория (1)
- СВЧ аппаратура на нитрид-галлиевых приборах (1)
- СВЧ приборы, исходные материалы (1)
- СВЧ приборы, элементы конструкции (1)
- СВЧ транзисторы, проектирование (1)
- СВЧ транзисторы, производство (1)
- СВЧ-транзисторы на широкозонных полупроводниках (1)
- Эллипсометрия (1)
- атмосфера аэрозольная (1)
- атомно-силовая микроскопия (1)
- выявление дефектов, методы (1)
- гетероструктуры широкозонных материалов, качество (1)
- гетероэпитаксиальные структуры (1)
- дипольные моменты (1)
- дисперсные среды (1)
- земная рефракция (1)
- ионная спектроскопия (1)
- квазимонохроматическое излучение (1)
- контроль входной (1)
- контроль подложек (1)
- контроль тепловой (1)
- контроль технологический (1)
- контроль электрический (1)
- коэффициент поглощения (1)
- коэффициенты рассеяния (1)
- лазерные системы (1)
- молекулярное рассеяние (1)
- молекулярные диполи (1)
- омические контакты, качество (1)
- оптико-электронные системы (1)
- оптическая микроскопия (1)
- оптические излучения (1)
- оптический контроль шлифов (1)
- поглощение излучения атмосферными газами (1)
- поглощения спектральные (1)
- полосы поглощения (1)
- полупроводниковые материалы, свойства (1)
- полупроводниковые материалы, технология создания (1)
- пространственное распределение элементов гетероструктур (1)
- радиоэлектронная аппаратура (1)
- рассеяние оптического излучения (1)
- рассеяние оптического излучения системой частиц (1)
- рентгеновский контроль (1)
- рефракция оптических волн в атмосфере (1)
- спекл-структуры (1)
- стандарты зарубежные (1)
- стандарты отечественные (1)
- теории рассеяния света (1)
- технологическая безопасность (1)
- Show more
- Show less