Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
- Книгохранилище (1)
- Читальный зал. Депозитарий (1)
-
Item types
-
Topics
- состав-свойство, диаграммы (2)
- физико-химический анализ (2)
- Ван-дер-Ваальса связь (1)
- Оже-электронная спектроскопия (1)
- Производство (1)
- Радиоэлектронная аппаратура (1)
- автоматизация экспериментов (1)
- автоматизированные расчеты, технологии (1)
- аналитические методы (1)
- аналитические методы моделирования (1)
- атомные структуры (1)
- границы зерен, сегрегация (1)
- графические методы построения (1)
- дефекты кристаллической структуры (1)
- дефекты линейные (1)
- дефекты точечные (1)
- диссертации (1)
- диффузия в материалах (1)
- изменение свойств материалов (1)
- изменение структуры материалов (1)
- испытания материалов, методы (1)
- исследования материалов, методы (1)
- конструкционные материалы (1)
- масс-спектроскопия (1)
- математические модели (1)
- материалы микроэлектроники (1)
- материалы с особыми свойствами (1)
- материалы физической электроники (1)
- материалы электронной техники (1)
- межатомные связи (1)
- многокомпонентные системы (1)
- оксидные материалы (1)
- приборы электронной спектроскопии (1)
- применение вычислительной техники, математического моделирования и математических методов в научных исследованиях (1)
- программы вычислительные (1)
- промежуточные фазы, структура (1)
- радиотехнические материалы (1)
- сплайн-аппроксимации (1)
- твердые растворы, структура (1)
- твердые тела (1)
- твердые тела кристаллические, структура (1)
- технологии электроники (1)
- точечные дефекты (1)
- упрочнение кристаллов (1)
- учебные издания для вузов (1)
- фазовые превращения (1)
- физикохимия свойств материалов (1)
- электронная спектроскопия (1)
- электронные вычислительные машины (1)
- энергия связи молекул (1)
- Show more
- Show less