Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
- Иванов, С. А. (1)
- Оикава, Тецуо (1)
- Синдо, Дайзуке (1)
- Фульц, Брент (1)
- Хау, Джеймс М. (1)
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
- Факультетская библиотека (2)
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 1 неделя (1)
- 1 месяц (1)
- 6 месяцев (1)
- Выдается по месту хранения (1)
-
Topics
- рассеяние электронов неупругое (2)
- ALCHEMI, метод (1)
- TEM, просвечивающая электронная микроскопия (1)
- XRD, рентгеновская дифрактометрия (1)
- Гюйгенса принцип (1)
- Дифрактометрия (1)
- Лауэ дифракция (1)
- ПЗС-камеры цифровые (1)
- Паттерсона функции (1)
- Френеля метод (1)
- Фуко метод (1)
- Эвальда сфера (1)
- Электронная микроскопия просвечивающая (1)
- атомная структура вещества (1)
- атомные форм-факторы (1)
- атомы примесные (1)
- вакуумное напыление (1)
- взаимодействие электронов с твердыми телами (1)
- голография электронная (1)
- детектирование спектров (1)
- детекторы рентгеновского излучения (1)
- динамическая теория дифракции (1)
- дисперсия электронов (1)
- дифрактометрия материалов (1)
- дифрактометры рентгеновские порошковые (1)
- дифракционные контрасты (1)
- дифракционные линии (1)
- дифракционные процессы (1)
- дифракция рентгеновских лучей в кристаллах (1)
- диффузное рассеяние (1)
- дробление (1)
- зондовая микроскопия (1)
- изображения высокого разрешения (1)
- индицирование рентгенограммы (1)
- ионное травление (1)
- ионные пучки фокусированые (1)
- кикучи-линии (1)
- кинематическая теория дифракции (1)
- количественный анализ (1)
- кристаллическая решетка (1)
- кристаллические решетки обратные (1)
- кристаллический форм-фактор (1)
- кристаллы (1)
- лоренцева микроскопия (1)
- магнитные материалы (1)
- нанопучки (1)
- наноструктуры (1)
- оптические системы электронных микроскопов (1)
- плазмоны (1)
- пробоподготовка (1)
- Show more
- Show less