Normal view
MARC view
Физические основы неразрушающего СВЧ-резонаторного метода локального контроля электрофизических параметров полупроводников М. В. Детинко, Ю. В. Медведев, А. С. Петров ; Сиб. физ.-техн. ин-т им. В. Д. Кузнецова при Том. гос. ун-те
Material type: TextSeries: ПрепринтPublication details: Томск Издательство Томского университета 1988Description: 29 с. илSubject(s): полупроводниковые материалы | электрофизические параметры полупроводников, измерение | резонаторы измерительные, теория | резонаторы измерительные, конструкции | диэлектрическая проницаемость полупроводников на СВЧ | поглощение электромагнитного поля полупроводниками | преобразователи измерительные радиоволновые | измерительные приборы неразрушающего контроляItem type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|
1 месяц | Книгохранилище | 2-019340 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000888444 | |
Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-701385 (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000868383 |
Библиогр.: с. 27-29
There are no comments on this title.