Normal view
MARC view
Компьютерное моделирование границ раздела полупроводник AIIIBV/собственный оксид с низкой плотностью интерфейсных состояний А. В. Бакулин, С. Е. Кулькова, М. С. Аксенов, Н. А. Валишева
Material type:![Article](/opac-tmpl/lib/famfamfam/AR.png)
No physical items for this record
There are no comments on this title.