Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
- Статьи из сборников (1)
-
Authors
- Ананьин, Олег Борисович (1)
- Большаков, Петр Николаевич (1)
- Войцеховский, Александр Васильевич (1)
- Криштал, Михаил Михайлович (1)
- Мелехов, Андрей Петрович (1)
- Полунин, Виктор Иванович (1)
- Рамакоти, Рави Шрираджа (1)
- Средин, Виктор Геннадиевич (1)
- Юрчак, Валерий Аркадьевич (1)
- Ясников, Игорь Станиславович (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Абонемент (1)
- Книгохранилище (1)
- Книгохранилище-11 (1)
- Читальный зал. Депозитарий (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (2)
- 1 месяц (1)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- поверхностные дефекты материалов (3)
- LEO 1455 VP, электронный микроскоп сканирующий (1)
- выявляемость дефектов (1)
- дефектоскопия электромагнитная (1)
- дефектоскопы (1)
- дефекты материалов конструкционных (1)
- диссертации (1)
- идентификация дефектов материалов (1)
- интерпретация данных электронной микроскопии (1)
- кристаллические материалы (1)
- линейный ток (1)
- магнитные поля переменные (1)
- магнитные поля постоянные (1)
- магнитные поля рассеяния, расчет (1)
- магнитостатические задачи (1)
- методы измерений (1)
- мягкое рентгеновское излучение (1)
- плоские поверхности (1)
- поверхности разрушения материалов (1)
- поверхностные неоднородности (1)
- пороки поверхностные (1)
- пороки рельсов поверхностные (1)
- результаты измерений (1)
- рентгеноспектральный микроанализ (1)
- решение задач, методы (1)
- теория полей рассеяния, построение (1)
- точечные заряды (1)
- транскристаллическое разрушение (1)
- трещинное разрушение (1)
- усталостное разрушение (1)
- численное интегрирование (1)
- экспериментальные исследования (1)
- электромагнитные методы исследования (1)
- электромагнитные параметры (1)
- электронная микроскопия сканирующая (1)
- электронные микроскопы сканирующие (1)
- электростатические задачи (1)
- Show more
- Show less