Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
- Книгохранилище (1)
- Читальный зал. Депозитарий (1)
-
Item types
-
Topics
- отказы технических систем, причины (2)
- Конструкции(мех.) (1)
- МОП-структуры (1)
- МОП-транзисторы (1)
- Разрушение (1)
- Шоттки диоды (1)
- авиационная техника (1)
- бортовые системы (1)
- величина рассеиваемой мощности, уменьшение (1)
- визуальные исследования (1)
- втулки (1)
- дефектоскопические методы (1)
- дефектоскопия капиллярная (1)
- дефекты ковки (1)
- дефекты литья (1)
- дефекты сварных соединений (1)
- дефекты формообразования (1)
- деформации пластические (1)
- деформации упругие (1)
- зубчатые передачи (1)
- интегральные микросхемы (1)
- ионизирующие излучения (1)
- источники рассеиваемой мощности (1)
- конструкционные ошибки (1)
- контроль технических систем (1)
- коррозионные процессы (1)
- космические аппараты (1)
- кремниевые микросхемы (1)
- крюки крановые (1)
- логическое проектирование (1)
- механика разрушения (1)
- микроконтроллеры (1)
- микропроцессоры (1)
- микросхемы (1)
- микроэлектроника субмикронная (1)
- микроэлектронные приборы (1)
- микроэлектронные устройства, минимизация энергопотребления (1)
- микроэлектронные устройства, проектирование (1)
- мосты (1)
- нагружение динамическое (1)
- нагрузки неучтенные (1)
- напряжения критические (1)
- напряжения остаточные (1)
- напряжения термические (1)
- параметры энергопотребления, изменения (1)
- подшипники роликовые (1)
- полупроводниковые приборы силовые (1)
- причины разрушений (1)
- пружины цилиндрические (1)
- радиационная стойкость микросхем (1)
- Show more
- Show less