|
|
1.
|
Рентгеновский 3D микротомограф для исследования радиоэлектронной аппаратуры В. И. Сырямкин, С. А. Клестов, С. С. Баус by Сырямкин, Владимир Иванович | Клестов, Семен Александрович | Баус, Станислав Сергеевич | Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Кафедра управления качеством | Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Научные подразделения ФИТ | Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Публикации студентов и аспирантов ФИТ. Source: Инноватика - 2015 : сборник материалов XI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 21-23 мая 2015 г., г. Томск, РоссияMaterial type:  Article; Format:
electronic
available online
 ; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Online access: Click here to access online Availability: No items available :
|
