Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Статьи из сборников (5)
- Статьи из сериальных изданий (4)
- Книги (1)
-
Authors
- Сырямкин, Владимир Иванович (5)
- Богомолов, Евгений Николаевич (2)
- Бородин, Владимир Алексеевич (2)
- Васильев, Александр Владимирович (2)
- Глушков, Глеб Сергеевич (2)
- Клестов, Семен Александрович (2)
- Khilchuk, Maria D. (1)
- Klestov, S. A. (1)
- Syryamkin, Vladimir I. (1)
- Баус, Мария Сергеевна (1)
- Баус, Станислав Сергеевич (1)
- Бубенчиков, Михаил Алексеевич (1)
- Буреев, Артем Шамильевич (1)
- Гафуров, Антон Олегович (1)
- Зарубин, Андрей Николаевич (1)
- Мокеев, Дмитрий Юрьевич (1)
- Новиков, Владимир Александрович (1)
- Осипов, Артем Владимирович (1)
- Сунцов, Сергей Борисович (1)
- Толбанов, Олег Петрович (1)
- Тяжев, Антон Владимирович (1)
- Шашев, Дмитрий Вадимович (1)
- Шидловский, Станислав Викторович (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
- Факультетская библиотека (1)
-
Item types
-
Topics
- микротомографы (4)
- дефектоскопия (3)
- рентгеновская микротомография (3)
- диагностика (2)
- микротомографы рентгеновские (2)
- микротомографы рентгеновские цифровые (2)
- "НейроИнформГео", нейроинформационная система (1)
- 3D-реконструкция (1)
- FMEA-анализ (1)
- Фурье-анализ (1)
- акустический анализ материалов (1)
- алгоритмы неразрушающего контроля материалов (1)
- алгоритмы предварительной обработки изображения (1)
- алгоритмы управления структурно-перестраиваемые (1)
- алгоритмы фрактальные (1)
- аттестация нанопорошков (1)
- вейвлет-анализ (1)
- внешний анализ материалов (1)
- диагностика материалов (1)
- диагностика наноматериалов (1)
- диагностические системы (1)
- интеллектуальная медицинская оптико-телевизионная диагностическая система (1)
- информационно-измерительные системы материалов структурно-перестраиваемые (1)
- квантово-химические расчеты, программное обеспечение лицензионное (1)
- магнитные жидкости (1)
- математическое моделирование (1)
- матричные детекторы (1)
- менеджмент качества (1)
- мехатронные системы (1)
- микроструктуры (1)
- наночастицы, моделирование термофоретического движения (1)
- неразрушающие методы диагностики (1)
- неразрушающий контроль (1)
- неразрушающий контроль материалов (1)
- обработка изображений (1)
- оптико-телевизионные измерительные системы (1)
- оптимизация параметров (1)
- оптимизация структуры (1)
- органические материалы (1)
- практикумы (1)
- программно-аппаратные комплексы (1)
- программное обеспечение диагностики материалов (1)
- рентгеновские 3D микротомографы (1)
- рентгеновские микротомографы (1)
- рентгеновское излучение (1)
- рентгенооптические системы (1)
- сварные швы (1)
- светодиоды (1)
- сканирующая зондовая микроскопия (1)
- современные методы исследования (1)
- Show more
- Show less