Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (9)
- Статьи из сериальных изданий (1)
-
Authors
- Сергеев, Алексей Георгиевич (3)
- Баженов, Сергей Леонидович (2)
- Брандон, Дэвид (2)
- Каплан, У. (2)
- Akiyama, Eiji (1)
- Chumlyakov, Yuri I. (1)
- Kireeva, Irina V. (1)
- Koyama, Motomichi (1)
- Ogawa, Kazuyuki (1)
- Sawaguchi, Takahiro (1)
- Tsuzaki, Kaneaki (1)
- Боровский, Игорь Борисович (1)
- Гаранин, Виктор Константинович (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Кудрявцева, Галина Петровна (1)
- Морис, Ф. (1)
- Нан Яо (1)
- Новиков, Ю. А. (1)
- Филибер, Ж. (1)
- Чжун Лин Ван (1)
- Яминский И. В. (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Книгохранилище (9)
- Абонемент. Депозитарий (4)
- Абонемент (2)
- Читальный зал 5 (1)
- Факультетская библиотека (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (9)
- 6 месяцев (4)
- 1 месяц (3)
- 1 неделя (1)
-
Topics
- электронная микроскопия (6)
- электронные микроскопы растровые (6)
- наноизмерения (4)
- оптическая микроскопия (4)
- сканирующая зондовая микроскопия (4)
- Нанотехнологии (3)
- нанометрология (3)
- неопределенность наноизмерений (3)
- полупроводники (3)
- сертификация наноиндустрии (3)
- стандартизация наноиндустрии (3)
- электронная микроскопия растровая (3)
- электронные микроскопы растровые измерительные (3)
- Брэгга уравнение (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Метрологическое обеспечение (2)
- Оже-электроны (2)
- атомно-силовая микроскопия (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- дифракционный анализ (2)
- дифракция электронов (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- кристаллические решетки (2)
- кристаллические структуры (2)
- микроанализ (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нестабильность наноизмерений (2)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- рентгеновский микроанализ (2)
- спектроскопия наноматериалов (2)
- точность наноизмерений (2)
- химический анализ поверхности (2)
- хроматография наноматериалов (2)
- электронная микроскопия просвечивающая (2)
- электроны вторичные (2)
- электроны отраженные (2)
- Исследование (1)
- Кикучи диаграммы (1)
- Материалы (1)
- Метрология (1)
- Микроструктура (1)
- Миллера индексы (1)
- Наноструктуры (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- Электронная микроскопия (1)
- автоматизированный анализ (1)
- Show more
- Show less