Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Книгохранилище (1)
- Книгохранилище-11 (1)
-
Item types
-
Topics
- Давида-Шоппера теория (1)
- Интерферометрия оптическая (1)
- Конструкционные материалы (1)
- Максвелл-Гарнетта теория (1)
- Максвелла уравнения (1)
- Микроскопические исследования (1)
- Микроскопы мезооптические (1)
- Розенберга теория двухмерного коллоида (1)
- Сивухина полуфеноменологическая теория (1)
- Эри формула (1)
- акустическая микроскопия (1)
- аналогоцифровые преобразователи (1)
- взаимодействие электромагнитного излучения с материалом (1)
- волокнистые материалы (1)
- защитные покрытия тонкие (1)
- зеркала селективные (1)
- импеданс поверхностный (1)
- интерферометрия многолучевая (1)
- интерферометры слоистые (1)
- картография ультразвуковая трехмерная (1)
- квазиоднородные среды (1)
- компьютерная оптическая микроскопия (1)
- константы упругости (1)
- микрорельеф поверхности (1)
- микроскопия интерференционная (1)
- микроскопия интерференционная многолучевая (1)
- микроскопы конфокальные (1)
- микротеории (1)
- обработка изображений (1)
- оптические постоянные (1)
- оптические свойства (1)
- отражение света (1)
- оцифровка (1)
- пленки (1)
- пленки тонкие (1)
- показатели преломления света (1)
- полиметилметакрилат (1)
- поляризаторы (1)
- преломление света (1)
- рентгеновская микроскопия (1)
- светофильтры интерференционные (1)
- стеклопластики (1)
- томография компьютерная рентгеновская (1)
- томография оптическая (1)
- тонкие покрытия (1)
- тонкие покрытия диэлектрические (1)
- тонкие покрытия металлические (1)
- тонкие покрытия многослойные (1)
- тонкие покрытия мономолекулярные (1)
- тонкие покрытия однослойные (1)
- Show more
- Show less