Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
-
Item types
-
Topics
- метрология нанотехнологий (3)
- Метрология (2)
- единство измерений, нормативно-правовая основа (2)
- метрологическая документация, формы (2)
- метрологическая служба России (2)
- метрологическая экспертиза технической документации (2)
- метрологические измерения, классификация (2)
- метрология законодательная (2)
- метрология квантовых процессов (2)
- метрология прикладная (2)
- метрология теоретическая (2)
- погрешности измерений (2)
- система менеджмента измерений (2)
- системы единиц физических величин (2)
- случайные величины (2)
- средства измерений (2)
- статистические методы (2)
- физические величины (2)
- эталоны единиц измерения (2)
- дефекты кристаллической структры как нульмерные объекты (1)
- квантовые компьютеры (1)
- квантовые нити наноразмерные (1)
- квантовые точки (1)
- нановискеры (1)
- нановолокна (1)
- нанодисперсные частицы (1)
- наноструктуры нульмерные (1)
- наноструктуры, строение (1)
- нанотехнологии (1)
- нанотрубки углеродные (1)
- наноусы (1)
- наночастицы (1)
- нульмерные объекты (наноструктуры) (1)
- плазма пылевая (1)
- размерные эффекты наноструктур (1)
- ридберговские атомы (1)
- сверхслабые воздействия (нанотехнологии) (1)
- синтез наноструктур (1)
- слабые воздействия (нанотехнологии) (1)
- суператомы (1)
- супрамолекулярные структуры (1)
- фрактальные нити (1)
- Show more
- Show less