Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
- Баженов, Сергей Леонидович (1)
- Брандон, Дэвид (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Исаев, Рауль Нигматович (1)
- Каплан, У. (1)
-
Locations
- Книгохранилище (2)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (1)
- 1 месяц (1)
-
Topics
- Брэгга уравнение (1)
- Кикучи диаграммы (1)
- Лауэ уравнение (1)
- Материалы (1)
- Микроструктура (1)
- Оже-электроны (1)
- аморфные фазы (1)
- анизотропия (1)
- гетерогенность (1)
- гомогенность (1)
- дифрактограммы (1)
- дифракционный анализ (1)
- дифракция электронов (1)
- изотропия (1)
- интерференционная микроскопия (1)
- ионизация молекул (1)
- ионы, типы (1)
- количественные методы микроанализа (1)
- кристаллические решетки (1)
- кристаллические структуры (1)
- кристаллические фазы (1)
- масс-спектрометрический анализ поверхностей (1)
- масс-спектрометрия (1)
- масс-спектрометрия ионная (1)
- масс-спектрометрия ионная вторичная (1)
- масс-спектрометры, ввод вещества (1)
- межатомные связи (1)
- металлы (1)
- оптическая микроскопия (1)
- оптические микроскопы (1)
- полупроводники (1)
- применение масс-спектрометрии (1)
- разделение ионов (1)
- рентгеновская дифракция (1)
- рентгеновская фотоэлектронная микроскопия (1)
- рентгеновский микроанализ (1)
- сканирующие туннельные микроскопы (1)
- твердые тела (1)
- точечные дефекты в кристаллах (1)
- учебные издания для вузов (1)
- химический анализ поверхности (1)
- электронная микроскопия (1)
- электронная микроскопия просвечивающая (1)
- электронная микроскопия растровая (1)
- электронные микроскопы растровые (1)
- электроны вторичные (1)
- электроны отраженные (1)
- Show more
- Show less