Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

    • Your search returned 2 results.

    1.
    Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман ; [отв. ред. О. А. Кайбышев] ; Акад. наук СССР, Ин-т пробл. сверхпластичности металлов

    by Валиев, Руслан Зуфарович | Вергазов, Анатолий Николаевич | Герцман, Валерий Юрьевич | Кайбышев, Оскар Акрамович [edt].

    Material type: Text Text; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Publication details: Москва Наука 1991Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    2.
    Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко под ред. А. В. Мохова

    by Фульц, Брент | Хау, Джеймс М.

    Series: Мир физики и техникиEdition: [3-е изд.]Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Техносфера 2011Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart