Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (3)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
- Информационный центр 24/7 (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (1)
- 1 неделя (1)
- 1 месяц (1)
- 6 месяцев (1)
- Выдается по месту хранения (1)
-
Topics
- измерительный комплекс (2)
- "Диоды и транзисторы", модуль программно-аппаратного измерительного комплекса (1)
- PILab, программно-апппаратный измерительный комплекс (1)
- p-n переходы (1)
- МДП-транзисторы (1)
- аналого-цифровое преобразование сигналов (1)
- аналогоцифровой преобразователь (1)
- виртуальный измерительный комплекс (1)
- гетеропереходы (1)
- датчики (1)
- диоды (1)
- диэлектрическая проницаемость наноматериалов, измерение (1)
- диэлектрическая проницаемость, измерение (1)
- диэлектрические потери, тангенс угла (1)
- измерительный интерфейс (1)
- имитационное моделирование (1)
- компьютерное моделирование (1)
- математическое моделирование (1)
- модели полупроводниковых приборов (1)
- нанопорошки магнитодиэлектриков (1)
- обработка информации (1)
- персональный компьютер (1)
- полупроводниковые приборы (1)
- полупроводниковые приборы силовые (1)
- потенциальные барьеры полупроводников (1)
- программное обеспечение (1)
- радиоспектроскоп (1)
- радиоэлектроника (1)
- резонансные методы исследования (1)
- резонаторы цилиндрические (1)
- схемотехническое моделирование (1)
- твердотельная электроника (1)
- транзисторы биполярные (1)
- транзисторы полевые (1)
- учебные пособия для вузов (1)
- экспериментальные исследования (1)
- электромагнитное излучение гигагерцового диапазона (1)
- электронно-дырочные переходы (1)
- электронные процессы в полупроводниках (1)
- электронные процессы неравновесные (1)
- электропроводность полупроводников (1)
- Show more
- Show less
-
Places
- ЭБС Лань (1)