Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Refine your search


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

    • Your search returned 17 results.

    1.
    Матричные фотоприемные устройства инфракрасного диапазона [В. Н. Овсюк, Г. Л. Курышев, Ю. Г. Сидоров и др.] ; отв. ред. С. П. Синица ; Рос. акад. наук, Сиб. отд. , Ин-т физики полупроводников

    by Овсюк, Виктор Николаевич | Курышев, Георгий Леонидович | Сидоров, Юрий Георгиевич | Синица, С. П [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Новосибирск Наука 2001Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    2.
    No cover image available
    Сближение ступеней на поверхности Si(100): эксперимент и моделирование Ю. Ю. Эрвье, М. Ю. Есин, А. С. Дерябин [и др.]

    by Эрвье, Юрий Юрьевич | Есин, Михаил Юрьевич | Дерябин, Александр Сергеевич | Колесников, Алексей Викторович | Никифоров, Александр Иванович.

    Source: Известия высших учебных заведений. ФизикаMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Other title: Pairing of monoatomic steps on the Si(100) surface: experiment and modeling.Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    3.
    No cover image available
    Анализ изменения поверхности при росте Ge, GeSi на Si(100) и Si(111) методом дифракции быстрых электронов В. В. Дирко, К. А. Лозовой, А. П. Коханенко, А. П. Коханенко

    by Дирко, Владимир Владиславович | Лозовой, Кирилл Александрович | Коханенко, Андрей Павлович | Войцеховский, Александр Васильевич.

    Source: Актуальные проблемы радиофизики АПР-2021 : 9-я Международная научно-практическая конференция, 20-22 октября 2021 года, г. Томск : сборник трудов конференцииMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    4.
    No cover image available
    Комплексная система обработки дифракционных картин в ДБЭО Д. В. Дмитриев, В. Г. Мансуров, Е. А. Колосовский и др.

    by Дмитриев, Дмитрий Владимирович физик | Мансуров, Владимир Геннадьевич | Колосовский, Евгений Анатольевич.

    Source: Девятая конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V", 3-5 октября 2006 г., Томск, Россия : материалы конференцииMaterial type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    5.
    No cover image available
    Peculiarities of the 7 × 7 to 5 × 5 superstructure transition during epitaxial growth of germanium on silicon (111) surface V. V. Dirko, K. A. Lozovoy, A. P. Kokhanenko [et al.]

    by Dirko, Vladimir V | Lozovoy, Kirill A | Kokhanenko, Andrey P | Kukenov, Olzhas I | Korotaev, Alexander G | Voytsekhovskiy, Alexander V.

    Source: NanomaterialsMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    6.
    No cover image available
    Исследование эпитаксиального роста тонких пленок кремния и германия методами дифракции электронов и с помощью кварцевого измерителя толщины В. В. Дирко, В. А. Заяханов

    by Дирко, Владимир Владиславович | Заяханов, Владимир Александрович.

    Source: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.Material type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Other title: The study of the epitaxial growth of thin silicon and germanium films by electron diffraction techniques and by ultrasonic thickness gauge.Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    7.
    No cover image available
    Особенности осцилляций интенсивности дифракционных картин при эпитаксии Si/Si(100) и Ge/Si(100) О. И. Кукенов, В. В. Дирко

    by Кукенов, Олжас Игоревич | Дирко, Владимир Владиславович.

    Source: Сборник материалов XVIII Российской научной студенческой конференции "Физика твердого тела" (ФТТ-2022), 28-31 марта 2022 года, Томск, РоссияMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    8.
    No cover image available
    Динамика сверхструктурных переходов при низкотемпературном росте наноструктур по Странскому-Крастанову К. А. Лозовой, В. В. Дирко, А. П. Коханенко [и др.]

    by Лозовой, Кирилл Александрович | Дирко, Владимир Владиславович | Коханенко, Андрей Павлович | Кукенов, Олжас Игоревич | Винарский, Владимир Петрович.

    Source: Нанофизика и наноэлектроника : труды XXVI Международного симпозиума, 14-17 марта 2022 г., Нижний НовгородMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    9.
    No cover image available
    Анализ дифракционных картин при синтезе наногетероструктур Ge/Si В. В. Дирко, К. А. Лозовой, А. П. Коханенко, О. И. Кукенов

    by Дирко, Владимир Владиславович | Лозовой, Кирилл Александрович | Коханенко, Андрей Павлович | Кукенов, Олжас Игоревич.

    Source: Школа молодых ученых "Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем", 14-16 декабря, Новосибирск, Интернет-конференция Zoom: 886 6967 7489 : тезисы докладовMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    10.
    No cover image available
    Dispersive optical parameters of Ni(100) crystal and thermally evaporated nickel films V. V. Atuchin, T. I. Grigorieva, L. D. Pokrovsky [et.al.]

    by Grigorieva, T. I | Pokrovsky, Lev D | Kruchinin, Vladimir N | Lychagin, Dmitry V | Ramana, C. V | Atuchin, Victor V | Томский государственный университет Геолого-географический факультет Кафедра минералогии и геохимии.

    Source: Modern physics letters BMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    11.
    No cover image available
    Использование формализма матриц рассеяния в расчетах осцилляций зеркального рефлекса в дифракции на отражение при МЛЭ Ю. Г. Галицын, В. Г. Мансуров, С. П. Мощенко, А. И. Торопов

    by Галицын, Юрий Георгиевич | Мансуров, Владимир Геннадьевич | Мощенко, Сергей Павлович | Торопов, Александр Иванович.

    Source: Восьмая российская конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V". GaAs-2002, 1-4 октября 2002 г. : материалы конференцииMaterial type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    12.
    No cover image available
    МЛЭ нанокластеры GE на поверхности Si(100). Картины ДБЭ и АСМ-изображения Н. А. Торопов, И. С. Романов

    by Торопов, Никита Александрович | Романов, Иван Сергеевич | Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ | Томский государственный университет Научное управление Лаборатории НУ.

    Source: Молодежная научная конференция Томского государственного университета, 2009 г. Вып. 2Material type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    13.
    No cover image available
    Контроль эпитаксиального роста тонких пленок кремния и германия методами дифракции электронов и кварцевым измерителем толщины В. А. Заяханов, В. В. Дирко

    by Заяханов, Владимир Александрович | Дирко, Владимир Владиславович.

    Source: Труды Пятнадцатой Всероссийской конференции студенческих научно-исследовательских инкубаторов, Томск, 17-19 мая 2018 г.Material type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    14.
    Экспериментальные методы физики твердого тела учебное пособие Д. В. Фомин

    by Фомин, Дмитрий Владимирович.

    Edition: Изд. 2-е, стер.Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Publication details: Москва [и др.] Директ-Медиа 2019Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    15.
    No cover image available
    Влияние электронного пучка дифракции быстрых электронов на морфологию поверхности гетероструктур CaF2/Si(100) Д. И. Остертак

    by Остертак, Д. И.

    Source: Физика твердого тела : сборник материалов X Российской научной студенческой конференции, 4-6 мая 2006 г., Томск, РоссияMaterial type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    16.
    No cover image available
    Vibrational spectroscopy and theory of alkali metal adsorption and co-adsorption on single-crystal surfaces A. Politano, G. Chiarello, G. Benedek [et.al.]

    by Chiarello, G | Benedek, G | Chulkov, Evgueni V | Echenique, Pedro Miguel | Politano, Antonio | Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики металлов.

    Source: Surface Science ReportsMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart
    17.
    No cover image available
    Анализ дифракционных картин при эпитаксиальном росте Si на Si(001) в направлениях пучка электронов [110] и [100] А. С. Соколов, О. И. Кукенов, В. В. Дирко [и др.]

    by Соколов, Арсений Сергеевич | Кукенов, Олжас Игоревич | Дирко, Владимир Владиславович | Лозовой, Кирилл Александрович | Коханенко, Андрей Павлович.

    Source: Актуальные проблемы радиофизики АПР-2023 : 10-я Международная научно-практическая конференция, 26-29 сентября 2023 года, г. Томск : сборник трудов конференцииMaterial type: Article Article; Format: electronic available online remote; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Online access: Click here to access online Availability: No items available :
    Log in to add tags Add to cart