Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (1)
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
- Факультетская библиотека (1)
-
Item types
- Выдается в читальный зал (1)
- 1 неделя (1)
- 1 месяц (1)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- дифрактограммы решетки (2)
- Бравэ решетки (1)
- Брэгга уравнение (1)
- Лауэ уравнение (1)
- Миллера индексы (1)
- Оже-электроны (1)
- Фурье метод (1)
- автоматизированный анализ (1)
- атомные решетки (1)
- геометрическая оптика (1)
- гониометры (1)
- дислокации (1)
- дифрактометры рентгеновские (1)
- дифракционный анализ (1)
- дифракция динамическая (1)
- дифракция электронов (1)
- интерметаллы (1)
- интерференционная микроскопия (1)
- ионная масс-спектрометрия (1)
- катодолюминесценция (1)
- керамика поликристаллическая (1)
- керамики (1)
- композиционные материалы (1)
- конструкционная сталь 1040 (1)
- кристаллические решетки (1)
- кристаллические структуры (1)
- линзы микроскопа (1)
- микроанализ (1)
- микроскоп оптический (1)
- микроскоп туннельный сканирующий (1)
- микроскопы просвечивающие (1)
- микроскопы растровые (1)
- микроструктуры (1)
- нанозернистые структуры (1)
- наноматериалы (1)
- нанопокрытия многослойные (1)
- наночастицы, изображения (1)
- напыление покрытия (1)
- оптическая анизотропия (1)
- оптическая микроскопия (1)
- полупроводники (1)
- рассеяние излучения кристаллами (1)
- рентгеновские аппараты (1)
- рентгеновские дифракционные методы (1)
- рентгеновские лучи (1)
- рентгеновский микроанализ (1)
- рентгеновское излучение (1)
- рентгенографический фазовый анализ (1)
- рентгенометрический анализ (1)
- решение задач материаловедения (1)
- Show more
- Show less