Refine your search
Availability
-
Bibliographic level
- Книги (2)
- Статьи из сборников (1)
-
Authors
-
Locations
- Читальный зал 5 (2)
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Библиотека РФФ (1)
-
Item types
- Выдается по месту хранения (2)
- 1 неделя (1)
- 6 месяцев (1)
-
Topics
- дислокационная структура кристаллов (3)
- автоматизированная система исследований дислокационной структуры поликристаллов (1)
- автоматизированная система исследований кристаллографической текстуры (1)
- анизотропия кристаллов (1)
- гармонический анализ (1)
- дефектообразование в приборных структурах (1)
- дефекты в кристаллах, классификация (1)
- дислокации в поликристаллической системе (1)
- дифракционные линии (1)
- дифракционный анализ (1)
- квантоворазмерные структуры (1)
- контрольные вопросы (1)
- кремний на диэлектрике, структуры (1)
- кристаллографическая текстура (1)
- кристаллы бездислокационные (1)
- легирование полупроводников (1)
- литография в микроэлектронике (1)
- материалы микроэлектроники (1)
- материалы наноэлектроники (1)
- микротехнологии в микросистемной технике (1)
- микроэлектроника (1)
- монокристаллы никеля (1)
- наноразмерные твердотельные композиции, квантовое описание (1)
- нанотехнологии в микросистемной технике (1)
- наноэлектроника (1)
- оптимальные измерения (1)
- осаждение диэлектрических слоев (1)
- осаждение тонких пленок (1)
- пластическая деформация (1)
- пластическая деформация металлов (1)
- плотность дислокаций (1)
- полупроводниковые материалы высокочистые, технологии получения (1)
- полупроводниковые подложки, обработка абразивная (1)
- полупроводниковые подложки, обработка химическая (1)
- приборные структуры, технологии формирования (1)
- радиационно-термические обработки (1)
- ромбическая текстура, устойчивость (1)
- собственные точечные дефекты (1)
- статистическое оценивание (1)
- функция текстурная (1)
- электронные структуры, технологии изготовления (1)
- эпитаксия жидкофазная, метод (1)
- эпитаксия газофазная, метод (1)
- эпитаксия молекулярно-лучевая, метод (1)
- Show more
- Show less