|
|
1.
|
|
|
|
2.
|
|
|
|
3.
|
|
|
|
4.
|
|
|
|
5.
|
|
|
|
6.
|
|
|
|
7.
|
|
|
|
8.
|
Нанотехнологии в полупроводниковой электронике [Н. Н. Михайлов, Р. Н. Смирнов, С. А. Дворецкий и др.] ; отв. ред. А. Л. Асеев ; Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников by Смирнов, Р. Н | Асеев, Александр Леонидович, 1946- [edt] | Михайлов, Николай Николаевич физик | Дворецкий, Сергей Алексеевич. Edition: 2-е изд., стер.Material type:  Text; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Language: Russian Publication details: Новосибирск Изд-во СО РАН 2007Availability: No items available :
|
|
|
9.
|
Использование сходящегося пучка излучения при анализе многослойных гетеросистем А. П. Василенко, Е. М. Труханов, А. И. Ильин и др. by Василенко, А. П | Труханов, Евгений Михайлович | Ильин, А. И | Колесников, А. В | Федоров, А. А | Антонова, И. В. Source: Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 годаMaterial type:  Article; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Availability: No items available :
|
|
|
10.
|
|
|
|
11.
|
|
|
|
12.
|
Установление формы неоднородного изгиба кремниевой эпитаксиальной системы с помощью интерференционной топографии (эксперимент и моделирование) А. С. Ильин, А. П. Василенко, Е. М. Труханов, и др. by Ильин, А. С | Василенко, А. П | Труханов, Евгений Михайлович | Колесников, А. В | Федоров, А. А. Source: Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 годаMaterial type: Article; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Availability: No items available :
|
