Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике Афонский А. А.,Дьяконов В. П.

By: Афонский А. АContributor(s): Дьяконов В. ПMaterial type: TextTextLanguage: Russian Publication details: Москва ДМК Пресс 2011Description: 688 сISBN: 978-5-94074-626-3Subject(s): измерения | измерительные приборы | интегральная микросхема | микросхемы (радиоэлектроника) | микроэлектроника | микроэлектроника (нанотехнологии) | нанотехнологии | нанотехнологии (микроэлектроника) | наноэлектроника | осциллографы | полупроводники | полупроводниковый прибор | цифровые измерительные устройства | электронные | электронные измерения | электронные измерители | электронные измерительные системыOther classification: 32.844.1+31.221 Online resources: Click here to access online | Click here to access online Summary: Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Книга из коллекции ДМК Пресс - Инженерно-технические науки

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share