Normal view
MARC view
Закономерности образования структурных дефектов в полупроводниках А2В6 Ю. Ю. Логинов, Пол Д. Браун, Кен Дьюроуз
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-921229к 53 (Browse shelf (Opens below)) | 1 | Available | 13820000477619 |
Библиогр.: с. 282-302
There are no comments on this title.