Normal view
MARC view
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
Material type: TextLanguage: Russian Series: Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиППPublication details: М. Наука 1981Description: 368 с. ил. 20 смISBN: В пер. (В пер.)Subject(s): Полупроводники - ДефектыOther classification: 17.4.6Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|
Выдается в читальный зал | Книгохранилище | 1-441641к (Browse shelf (Opens below)) | Available | 13820000765694 |
Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв.)
There are no comments on this title.