Моделирование профилей линий в спектрах криптона, излучаемых плазмой токовых слоев Е. В. Корюкина, В. И. Корюкин
Material type:
ArticleSubject(s): токовые слои | моделирование процессов | профили спектральных линий | диагностика плазмыGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online
In:
Известия высших учебных заведений. Физика Т. 61, № 12. С. 113-120Abstract: Проводится моделирование профилей линий в спектрах атома криптона, излучаемых плазмой токовых слоев. Токовые слои формируются под воздействием магнитных полей с особыми линиями X -типа. Расчеты профилей линий проводятся методом диагонализации матрицы энергии атома в электрическом поле. Исследована зависимость поведения профилей линий от параметров переменного электрического поля, возникающего в плазме токовых слоев, и от температуры плазмы. Предложены критерии, позволяющие выявить спектральные линии, являющиеся индикаторами появления аномальных электрических полей в токовых слоях.
Библиогр.: 13 назв.
Ограниченный доступ
Проводится моделирование профилей линий в спектрах атома криптона, излучаемых плазмой токовых слоев. Токовые слои формируются под воздействием магнитных полей с особыми линиями X -типа. Расчеты профилей линий проводятся методом диагонализации матрицы энергии атома в электрическом поле. Исследована зависимость поведения профилей линий от параметров переменного электрического поля, возникающего в плазме токовых слоев, и от температуры плазмы. Предложены критерии, позволяющие выявить спектральные линии, являющиеся индикаторами появления аномальных электрических полей в токовых слоях.
There are no comments on this title.