Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Увеличение площади контроля при измерении деформации твердого тела методом корреляции цифровых изображений В. В. Кибиткин, А. И. Солодушкин

By: Кибиткин, Владимир ВасильевичContributor(s): Солодушкин, Андрей ИвановичMaterial type: ArticleArticleContent type: Текст Media type: электронный Subject(s): деформация | поле векторов смещений | метод корреляции цифровых изображений | алгоритм скользящего окна | субпиксельная точностьGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 64, № 4. С. 32-37Abstract: Знание механизмов деформации и разрушения конструкционных материалов позволяет оптимизировать их состав и микроструктуру. В настоящее время для этих целей применяется метод корреляции цифровых изображений вследствие высокой точности и простоты обработки данных. Для понимания физических процессов мезомасштабного уровня используют оптическую микроскопию, однако при этом уменьшается исследуемая область. Кратко рассмотрены основные подходы, позволяющие увеличить площадь контроля без потери точности. Показано, что данная задача может быть решена путем сшивки перекрывающихся изображений или отдельных полей смещений, чтобы получить единое векторное поле. Другой путь связан с уменьшением оптического увеличения, а для сохранения абсолютной погрешности на заданном уровне предлагается использовать расчет с субпиксельной точностью. Возможности данного подхода проиллюстрированы на примере сварного соединения, работающего в условиях усталости.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 15 назв.

Знание механизмов деформации и разрушения конструкционных материалов позволяет оптимизировать их состав и микроструктуру. В настоящее время для этих целей применяется метод корреляции цифровых изображений вследствие высокой точности и простоты обработки данных. Для понимания физических процессов мезомасштабного уровня используют оптическую микроскопию, однако при этом уменьшается исследуемая область. Кратко рассмотрены основные подходы, позволяющие увеличить площадь контроля без потери точности. Показано, что данная задача может быть решена путем сшивки перекрывающихся изображений или отдельных полей смещений, чтобы получить единое векторное поле. Другой путь связан с уменьшением оптического увеличения, а для сохранения абсолютной погрешности на заданном уровне предлагается использовать расчет с субпиксельной точностью. Возможности данного подхода проиллюстрированы на примере сварного соединения, работающего в условиях усталости.

There are no comments on this title.

to post a comment.
Share