Алгоритмы мультифрактального вейвлет-анализа в задачах спецификации растровых изображений самоподобных структур А. Г. Масловская, Л. С. Афанасов
Material type:
ArticleContent type: Текст Media type: электронный Other title: Algorithms of multifractal wavelet analysis in problems of specifying raster images of self-similar structures [Parallel title]Subject(s): растровые изображения | метод максимумов модулей вейвлет-преобразования | алгоритм фильтрации | алгоритм маркировки | мультифрактальные характеристикиGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online
In:
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 53. С. 61-71Abstract: Работа посвящена развитию и применению алгоритмического подхода к оценке скейлинговых характеристик растровых изображений самоподобных структур на основе мультифрактального вейвлет-анализа. В рамках метода максимумов модулей вейвлет-преобразования предложены алгоритмы фильтрации и маркировки линий локальных экстремумов. Представлены мультифрактальные характеристики на примере анализа растровых изображений доменных структур типичных сегнетоэлектриков.
Библиогр.: 18 назв.
Работа посвящена развитию и применению алгоритмического подхода к оценке скейлинговых характеристик растровых изображений самоподобных структур на основе мультифрактального вейвлет-анализа. В рамках метода максимумов модулей вейвлет-преобразования предложены алгоритмы фильтрации и маркировки линий локальных экстремумов. Представлены мультифрактальные характеристики на примере анализа растровых изображений доменных структур типичных сегнетоэлектриков.
There are no comments on this title.